Inline-Systeme
modusAOI

Das AOI-System ist für die gleichzeitige Inspektion der Ober- und Unterseite von Leiterplatten konzipiert. Es verfügt über zwei Multi-LED beleuchtete Scaneinheiten mit parallaxenfreier Sicht. Diese Systeme sind auch für eine Seite erhältlich, sowohl für die Ober- als auch für die Unterseite. Das System umfasst einen kompletten Satz von Modus-Steuereinheiten. Das Transportmodul hat eine Länge von 1200mm (47.2 in).

Das Triple-AOI-System ist für die gleichzeitige Inspektion am Rücklaufband sowie von oben und unten vor und nach dem Wellenlötofen konzipiert. Es verfügt über drei Multi-LED beleuchtete Scanner-Einheiten sowie eine patentierte Spezialoptik, die ein parallaxenfreies Bild erzeugt. Das System umfasst drei modus Steuereinheiten. Das Transportmodul hat eine Länge von 1200mm (47.2 in.).

SCAN L wurde für Anwendungen entwickelt, die einen großen Inspektionsbereich, hochauflösende Farbbildgebung, eine intuitive Programmierung und eine umfassende Rückverfolgbarkeit in der Produktion erfordern.

• Echte 24-Bit-Farbbildgebung mit einer Auflösung von 20.400 × 14.040 Pixeln pro Einzelscan. Die flexible Beleuchtung ermöglicht eine detailreiche Darstellung von Leiterplattenoberflächen, Bauteilen und Schutzbeschichtungen (Conformal Coating).
• Eine achromatische Optik ermöglicht eine parallaxenfreie Darstellung und damit eine zuverlässige Inspektion rund um Bauteile sowie bei komplexen Leiterplattengeometrien.
• Die benutzerfreundliche Software ermöglicht eine effiziente Erstellung und Anpassung von Inspektionsprogrammen.
• Ein übersichtlicher Programmierassistent und eine klar strukturierte Benutzeroberfläche vereinfachen die Bedienung des Systems und reduzieren den Programmieraufwand.
• Inspektionsbereich: 420 × 530 mm
• Ein vollständiger Scan inklusive Bildverarbeitung erfolgt in weniger als 25 Sekunden. Die Ergebnisse stehen unmittelbar zur Verfügung.
• Unterstützung der MES-Rückverfolgbarkeit: Eine optionale 2D-Barcode-Erkennung ermöglicht die eindeutige Identifikation einzelner Leiterplatten. Inspektionsergebnisse und detaillierte Qualitätsinformationen können mit dem MES verknüpft werden und ermöglichen so eine umfassende Produkt- und Prozessrückverfolgbarkeit.

SCAN S vereint alle Vorteile des SCAN L in einem kompakten Format und bietet eine schnelle Bilderfassung, hochauflösende Leiterplattenabbildung sowie eine verbesserte Effizienz der UV-Beleuchtung.

• Inspektionsbereich: 400 × 300 mm
• Bildscan in 6,1 Sekunden
• Komplette Zykluszeit für den gesamten Inspektionsbereich: 15,2 Sekunden
• Höhere UV-Lichteffizienz als bei der vorherigen Generation sowie eine optimierte Beleuchtungssteuerung für eine verbesserte Visualisierung von UV-markierbaren Schutzbeschichtungen (Conformal Coatings).